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SoC測試

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  • 基于新型MEMS開關提高SoC測試能力及系統(tǒng)產(chǎn)出
    先進的數(shù)字處理器IC要求通過單獨的DC參數(shù)和高速數(shù)字自動測試設備(ATE)測試，以達到質(zhì)保要求。這帶來了很大的成本和組織管理挑戰(zhàn)。本文將介紹ADGM1001 SPDT MEMS開關如何助力一次性通過單插入測試，以幫助進行DC參數(shù)測試和高速數(shù)字測試，從而降低測試成本，簡化數(shù)字/RF片上系統(tǒng)(SoC)的測試流程。 圖1.操作員將負載板安裝到測試儀上，以測試數(shù)字SoC ATE挑戰(zhàn) 半導體市場在不斷發(fā)展，
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    近日，在上海舉辦的媒體見面會上，愛德萬測試（中國）管理有限公司業(yè)務戰(zhàn)略發(fā)展部高級總監(jiān)陸亞奇向與非網(wǎng)記者介紹，目前愛德萬的業(yè)務涵蓋機電一體化系統(tǒng)、半導體和器件測試系統(tǒng)以及一些新興業(yè)務領域，這些新興業(yè)務包括鈦赫茲波測試和MEMS傳感器測試領域等。在交流中，陸亞奇格外強調(diào)中國市場對愛德萬公司整體業(yè)務發(fā)展的重要性