微電子學中的微型化不可避免地導致寄生器件的意外出現。相鄰的導電路徑最終被一個非常窄的間隙分開,以至于無法正確地將它們彼此隔離。寄生隧道器件、雙極晶體管和晶閘管最終會形成,每種器件都會引起其自身獨特的異常行為。
寄生SCRs(可控硅整流器)的出現引起了已經研究透徹的固定問題。寄生雙極晶體管的出現,如圖1所示的"NPN寄生雙極晶體管剖面",通常不太嚴重,但會在電池供電電路中引發(fā)一種特殊類型的問題。本文解決的就是這個問題。
這個問題在電池供電的存儲器中表現為數據損壞:存儲器陣列中的數據位無意中從1翻轉到0,或者從0翻轉到1。當負脈沖無意中應用于無意中形成的寄生雙極晶體管的發(fā)射極時,導致其進入導通模式,并連接兩條本來隔離的信號線時,就會引起這種情況。